Método de representación de parámetros de fuente

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(SPI, por sus siglas en inglés). Representación de los parámetros de la fuente que considera un contacto inclinado o una capa delgada inclinada. iSPI, significa “SPI mejorado”, relaciona números de onda locales a un índice estructural para discriminar entre profundidades determinadas a partir de modelos básicos. Marca registrada de CGG-Geoterrex. Ver Thurston y Smith 1997.