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(<b>a</b>) <b>Un sismograma sintético</b> 1D es definido mediante la convolución de una ondícula fuente con una función de reflectividad (también conocida como <b>stickogram</b> debido a que es usualmente graficada como una serie de pulsos que indican signo y magnitud de la reflectividad en interfaces sucesivas, siendo el tiempo doble de viaje la variable a definir) . La ondícula fuente es algunas veces asumida como una onda conocida (por ejemplo, la ondícula Ricker), aunque en otros casos, es también extraída a partir de los datos sísmicos reales (ondícula implícita, también conocida como ondícula equivalente). La función de reflectividad suele comprender las reflexiones primarias solamente; sin embargo, ciertos múltiples pudieran ser añadidos, y en otros casos, todos los múltiples son incluidos. Algunas veces, los efectos de filtrado de la tierra (divergencia y otros efectos de atenuación, incluyendo la absorción dependiente de la frecuencia) son también simulados. La reflectividad es usualmente calculada suponiendo incidencia normal a partir de los datos de velocidad y densidad. Sin embargo, es común observar que sólo las variaciones de velocidad sean consideradas, debido a que las variaciones de densidad tienden a ser desconocidas (a no ser que se suponga alguna relación entre la densidad y velocidad).
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(<b>a</b>) <b>Un sismograma sintético</b> 1D es definido mediante la convolución de una ondícula fuente con una función de reflectividad (también conocida como <b>stickogram</b> debido a que es usualmente graficada como una serie de pulsos que indican signo y magnitud de la reflectividad en interfaces sucesivas, siendo el tiempo doble de viaje la variable a definir). La ondícula fuente es algunas veces asumida como una onda conocida (por ejemplo, la ondícula Ricker), aunque en otros casos, es también extraída a partir de los datos sísmicos reales (ondícula implícita, también conocida como ondícula equivalente). La función de reflectividad suele comprender las reflexiones primarias solamente; sin embargo, ciertos múltiples pudieran ser añadidos, y en otros casos, todos los múltiples son incluidos. Algunas veces, los efectos de filtrado de la tierra (divergencia y otros efectos de atenuación, incluyendo la absorción dependiente de la frecuencia) son también simulados. La reflectividad es usualmente calculada suponiendo incidencia normal a partir de los datos de velocidad y densidad. Sin embargo, es común observar que sólo las variaciones de velocidad sean consideradas, debido a que las variaciones de densidad tienden a ser desconocidas (a no ser que se suponga alguna relación entre la densidad y velocidad).

Latest revision as of 15:33, 23 September 2020

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Message definition (Dictionary:Synthetic seismogram)
(<b>a</b>) A 1D <b>synthetic seismogram</b> is formed by simply convolving an embedded waveform with a reflectivity function (also called a <b>stickogram</b> because it is usually plotted as a series of spikes indicating the sign and magnitude of the reflectivity at successive interfaces, the variable usually being two-way traveltime). The embedded waveform is sometimes an assumed waveform (such as a Ricker wavelet) and sometimes a waveform resulting from analysis of actual seismic data (the embedded wavelet, also called the equivalent wavelet). The reflectivity function sometimes involves primary reflections only, sometimes selected multiples are added, sometimes all multiples are added. Sometimes earth-filtering effects (divergence and other attenuation effects, including frequency-dependent absorption) are also simulated. The reflectivity is usually that calculated for normal incidence from velocity and density data, but often only velocity changes are considered because density changes are unknown (or else some relationship between density and velocity is assumed).
Translation(<b>a</b>) <b>Un sismograma sintético</b> 1D es definido mediante la convolución de una ondícula fuente con una función de reflectividad (también conocida como <b>stickogram</b> debido a que es usualmente graficada como una serie de pulsos que indican signo y magnitud de la reflectividad en interfaces sucesivas, siendo el tiempo doble de viaje la variable a definir). La ondícula fuente es algunas veces asumida como una onda conocida (por ejemplo, la ondícula Ricker), aunque en otros casos, es también extraída a partir de los datos sísmicos reales (ondícula implícita, también conocida como ondícula equivalente). La función de reflectividad suele comprender las reflexiones primarias solamente; sin embargo, ciertos múltiples pudieran ser añadidos, y en otros casos, todos los múltiples son incluidos. Algunas veces, los efectos de filtrado de la tierra (divergencia y otros efectos de atenuación, incluyendo la absorción dependiente de la frecuencia) son también simulados. La reflectividad es usualmente calculada suponiendo incidencia normal a partir de los datos de velocidad y densidad. Sin embargo, es común observar que sólo las variaciones de velocidad sean consideradas, debido a que las variaciones de densidad tienden a ser desconocidas (a no ser que se suponga alguna relación entre la densidad y velocidad).

(a) Un sismograma sintético 1D es definido mediante la convolución de una ondícula fuente con una función de reflectividad (también conocida como stickogram debido a que es usualmente graficada como una serie de pulsos que indican signo y magnitud de la reflectividad en interfaces sucesivas, siendo el tiempo doble de viaje la variable a definir). La ondícula fuente es algunas veces asumida como una onda conocida (por ejemplo, la ondícula Ricker), aunque en otros casos, es también extraída a partir de los datos sísmicos reales (ondícula implícita, también conocida como ondícula equivalente). La función de reflectividad suele comprender las reflexiones primarias solamente; sin embargo, ciertos múltiples pudieran ser añadidos, y en otros casos, todos los múltiples son incluidos. Algunas veces, los efectos de filtrado de la tierra (divergencia y otros efectos de atenuación, incluyendo la absorción dependiente de la frecuencia) son también simulados. La reflectividad es usualmente calculada suponiendo incidencia normal a partir de los datos de velocidad y densidad. Sin embargo, es común observar que sólo las variaciones de velocidad sean consideradas, debido a que las variaciones de densidad tienden a ser desconocidas (a no ser que se suponga alguna relación entre la densidad y velocidad).